АНАЛІЗ ФАЗОВИХ РІВНОВАГ У ДВІЙКОВІЙ СИСТЕМІ А2 — В6 ZnTe
DOI:
https://doi.org/10.18524/1815-7459.2012.3.114975Ключові слова:
діаграма стану, фазові рівноваги, оптична густина парів, телур, цинкАнотація
У даній статті проведено аналіз побудованої P – T – X діаграми системи Zn-Te методом оптичної густини пару. Були виміряні парціальні тиски цинку та телуру над твердим Zn-Te для складу від 40 до 55 ат.% Te до температури 917°С.Посилання
Маслов О. В., Ленков С. В., Банзак О. В., Карпенко О. В. Погрешность измерения характеристик полей гамма-излучения детектором на основе Cd ZnTe // Збірник наукових праць Військового інституту Київського національного університету імені Тараса Шевченка. — К., 2012. — № 36. — С.173 — 182.
Лєнков С. В., Банзак О. В., Карпенко О. В. Порівняльний аналіз методів отримання та управління властивостями телуридів цинку і кадмію // Нові технології. — Кременчук, — 2011. — № 4(34). — С. 3–10.
Большакова Г. В. Исследование влияния различных примесей на структурные параметры кристаллов CdTe// Большакова Г. В., Леднева Ф. И., Кутовой И. С., Устинов В. М.- Электронная техника. Серия 6: Материалы. — Вып. 2 (256), 1991. — С. 2326.
##submission.downloads##
Опубліковано
Номер
Розділ
Ліцензія
Авторське право (c) 2012 Сенсорна електроніка і мікросистемні технології
Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License.
Авторське право переходить Видавцю.
