АНАЛІЗ ФАЗОВИХ РІВНОВАГ У ДВІЙКОВІЙ СИСТЕМІ А2 — В6 ZnTe - Лєнков, С. В.; Банзак, О. В.; Карпенко, О. В. (Сенсорна електроніка і мікросистемні технології, 2012)
У даній статті проведено аналіз побудованої P – T – X діаграми системи Zn-Te методом оптичної густини пару. Були виміряні парціальні тиски цинку та телуру над твердим Zn-Te для складу від 40 до 55 ат.% Te до температури 917°С.