Kulinich, O., Glauberman, M., Chemeresuk, G. і Yatsunsky, I. 2017. ДОСЛІДЖЕННЯ ПРИЧИН КАТАСТРОФІЧНОЇ ДЕГРАДАЦІЇ ПАРАМЕТРІВ КРЕМНІЄВИХ МОН — ТРАНЗИСТОРІВ. Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. 2, 1 (Жов 2017), 85–89. DOI:https://doi.org/10.18524/1815-7459.2005.1.112262.