[1]
Bak-Misiuk, J., Dynowska, E., Romanowski, P., Misiuk, A., Shalimov, A., Domagalaa, J.Z., Lusakowska, E., Sadowski, J., Caliebe, W., Szuszkiewicz, W. і Trela, J. 2007. ВПЛИВ ВІДПАЛУ НА СТРУКТУРУ ДЕФЕКТІВ GaMnAs І Si:Mn. Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. 4, 4 (Лис 2007), 4–9. DOI:https://doi.org/10.18524/1815-7459.2007.4.114106.