[1]
Кукла, О.Л., Мамикін, А.В., Майстренко, А.С. і Павлюченко, О.С. 2012. Експрес аналізатор параметрів функциональних матеріалів на основі методу імпедансної спектроскопії. Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. 9, 3 (Лип 2012). DOI:https://doi.org/10.18524/1815-7459.2012.3.114507.