[1]
Pavlyk, B.V., Hrypa, A.S., Slobodzyan, D.P., Lys, R.M., Didyk, R.I. і Shykoryak, J.A. 2010. ПЕРЕБУДОВА ДЕФЕКТІВ В ПОВЕРХНЕВО-БАР’ЄРНИХ СТРУКТУРАХ Bi-Si-Al СТИМУЛЬОВАНА ДІЄЮ РАДІАЦІЇ. Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. 7, 4 (Лис 2010), 37–41. DOI:https://doi.org/10.18524/1815-7459.2010.4.116316.