[1]
Мельник, В.Г., Дзядевич, С.В., Новік, А.І., Погребняк, В.Д., Сліцький, О.В., Лепіх, Я.І., Лєнков, С.В. і Проценко, В.О. 2011. ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ МЕТРОЛОГІЧНОЇ НАДІЙНОСТІ КОНДУКТОМЕТРИЧНИХ СИСТЕМ З ДИФЕРЕНЦІЙНИМИ ДАТЧИКАМИ. Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. 8, 4 (Груд 2011), 46–52. DOI:https://doi.org/10.18524/1815-7459.2011.4.119304.