[1]
Махній, В.П., Березовський, М.М., Склярчук, В.М. і Сльотов, О.М. 2018. ВИЗНАЧЕННЯ ВИСОТИ БАР’ЄРА КОНТАКТІВ Ni - НАПІВПРОВІДНИК ФОТОЕЛЕКТРИЧНИМ МЕТОДОМ. Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. 15, 2 (Лип 2018), 13–19. DOI:https://doi.org/10.18524/1815-7459.2018.2.136883.