Kulinich, O.; Glauberman, M.; Chemeresuk, G.; Yatsunsky, I. ДОСЛІДЖЕННЯ ПРИЧИН КАТАСТРОФІЧНОЇ ДЕГРАДАЦІЇ ПАРАМЕТРІВ КРЕМНІЄВИХ МОН — ТРАНЗИСТОРІВ. Сенсор. електроніка і мікросистем. технології 2017, 2, 85-89.