Bak-Misiuk, J.; Dynowska, E.; Romanowski, P.; Misiuk, A.; Shalimov, A.; Domagalaa, J. Z.; Lusakowska, E.; Sadowski, J.; Caliebe, W.; Szuszkiewicz, W.; Trela, J. ВПЛИВ ВІДПАЛУ НА СТРУКТУРУ ДЕФЕКТІВ GaMnAs І Si:Mn. Сенсор. електроніка і мікросистем. технології 2007, 4, 4-9.