(1)
Khetselius, O. Y.; Turin, A. V.; Sukharev, D. E.; Florko, T. A. ДОСЛІДЖЕННЯ РЕНТГЕНІВСЬКИХ СПЕКТРІВ КАОННИХ ТА ПІОННИХ АТОМІВ ЯК ЗАСІБ ДЛЯ ДЕТЕКТУВАННЯ ЯДЕРНОЇ СТРУКТУРИ. Сенсор. електроніка і мікросистем. технології 2009, 6, 30-35.