(1)
Мельник, В. Г.; Дзядевич, С. В.; Борщев, П. І.; Беляєв, В. К.; Василенко, О. Д.; Жаффрезік-Рено, Н. АПАРАТНО-ПРОГРАМНИЙ КОМПЛЕКС ДЛЯ КОНДУКТОМЕТРИЧНИХ ВИМІРЮВАНЬ З ВИСОКОЮ МЕТРОЛОГІЧНОЮ НАДІЙНІСТЮ. Сенсор. електроніка і мікросистем. технології 2023, 20, 59-78.