Kulinich, O., Glauberman, M., Chemeresuk, G., & Yatsunsky, I. (2017). ДОСЛІДЖЕННЯ ПРИЧИН КАТАСТРОФІЧНОЇ ДЕГРАДАЦІЇ ПАРАМЕТРІВ КРЕМНІЄВИХ МОН — ТРАНЗИСТОРІВ. Сенсорна електроніка і мікросистемні технології, 2(1), 85–89. https://doi.org/10.18524/1815-7459.2005.1.112262