CHEGEL, V. I.; SHIRSHOV, Y. M. СПЕКТРОСКОПІЯ З ВИКОРИСТАННЯМ ПОВЕРХНЕВОГО ПЛАЗМОННОГО РЕЗОНАНСУ: МОЖЛИВОСТІ ТА ОБМЕЖЕННЯ. Сенсорна електроніка і мікросистемні технології, [S. l.], v. 1, n. 2, p. 34–49, 2017. DOI: 10.18524/1815-7459.2004.2.111890. Disponível em: http://semst.onu.edu.ua/article/view/111890. Acesso em: 14 груд. 2025.