KULINICH, O.; GLAUBERMAN, M.; CHEMERESUK, G.; YATSUNSKY, I. ДОСЛІДЖЕННЯ ПРИЧИН КАТАСТРОФІЧНОЇ ДЕГРАДАЦІЇ ПАРАМЕТРІВ КРЕМНІЄВИХ МОН — ТРАНЗИСТОРІВ. Сенсорна електроніка і мікросистемні технології, [S. l.], v. 2, n. 1, p. 85–89, 2017. DOI: 10.18524/1815-7459.2005.1.112262. Disponível em: http://semst.onu.edu.ua/article/view/112262. Acesso em: 6 груд. 2025.