MOKRITSKY, V. A.; LEPIKH, Y. I.; KURITSYN, E. M.; BANZAK, O. V. ВПЛИВ ШВИДКИХ ЕЛЕКТРОНІВ НА ВЛАСТИВОСТІ ЕПІТАКСІАЛЬНИХ ШАРІВ КРЕМНІЮ ТА ПАРАМЕТРИ ФОТОРЕЗИСТОРІВ НА ЇХ ОСНОВІ. Сенсорна електроніка і мікросистемні технології, [S. l.], v. 5, n. 3, p. 34–39, 2008. DOI: 10.18524/1815-7459.2008.3.114647. Disponível em: http://semst.onu.edu.ua/article/view/114647. Acesso em: 13 груд. 2025.