KHETSELIUS, O. Y.; TURIN, A. V.; SUKHAREV, D. E.; FLORKO, T. A. ДОСЛІДЖЕННЯ РЕНТГЕНІВСЬКИХ СПЕКТРІВ КАОННИХ ТА ПІОННИХ АТОМІВ ЯК ЗАСІБ ДЛЯ ДЕТЕКТУВАННЯ ЯДЕРНОЇ СТРУКТУРИ. Сенсорна електроніка і мікросистемні технології, [S. l.], v. 6, n. 1, p. 30–35, 2009. DOI: 10.18524/1815-7459.2009.1.115362. Disponível em: http://semst.onu.edu.ua/article/view/115362. Acesso em: 6 груд. 2025.