МАХНІЙ, В. П.; БЕРЕЗОВСЬКИЙ, М. М.; СКЛЯРЧУК, В. М.; СЛЬОТОВ, О. М. ВИЗНАЧЕННЯ ВИСОТИ БАР’ЄРА КОНТАКТІВ Ni - НАПІВПРОВІДНИК ФОТОЕЛЕКТРИЧНИМ МЕТОДОМ. Сенсорна електроніка і мікросистемні технології, [S. l.], v. 15, n. 2, p. 13–19, 2018. DOI: 10.18524/1815-7459.2018.2.136883. Disponível em: http://semst.onu.edu.ua/article/view/136883. Acesso em: 6 груд. 2025.