МЕЛЬНИК, В. Г.; ДЗЯДЕВИЧ, С. В.; БОРЩЕВ, П. І.; БЕЛЯЄВ, В. К.; ВАСИЛЕНКО, О. Д.; ЖАФФРЕЗІК-РЕНО, Н. АПАРАТНО-ПРОГРАМНИЙ КОМПЛЕКС ДЛЯ КОНДУКТОМЕТРИЧНИХ ВИМІРЮВАНЬ З ВИСОКОЮ МЕТРОЛОГІЧНОЮ НАДІЙНІСТЮ. Сенсорна електроніка і мікросистемні технології, [S. l.], v. 20, n. 3, p. 59–78, 2023. DOI: 10.18524/1815-7459.2023.3.288160. Disponível em: http://semst.onu.edu.ua/article/view/288160. Acesso em: 6 груд. 2025.