БУЯДЖИ, В. В.; ГЛУШКОВ, О. В.; МАНСАРЛІЙСЬКИЙ, В. Ф.; Iгнатенко Г. В.; СВИНАРЕНКО, А. А. СПЕКТРОСКОПІЯ АТОМIB В СИЛЬНОМУ ЛАЗЕРНОМУ ПОЛІ: НОВИЙ МЕТОД ВИЗНАЧЕННЯ ПАРАМЕТРІВ АС ЕФЕКТУ ШТАРКА, БАГАТОФОТОННИХ РЕЗОНАНСІВ ТА ПЕРЕРІЗІВ ІОНІЗАЦІЇ. Сенсорна електроніка і мікросистемні технології, [S. l.], v. 12, n. 4, p. 27–36, 2015. DOI: 10.18524/1815-7459.2015.4.107787. Disponível em: http://semst.onu.edu.ua/article/view/107787. Acesso em: 6 груд. 2025.