Kulinich, O., M. Glauberman, G. Chemeresuk, і I. Yatsunsky. 2017. «ДОСЛІДЖЕННЯ ПРИЧИН КАТАСТРОФІЧНОЇ ДЕГРАДАЦІЇ ПАРАМЕТРІВ КРЕМНІЄВИХ МОН — ТРАНЗИСТОРІВ». Сенсорна електроніка і мікросистемні технології 2 (1):85-89. https://doi.org/10.18524/1815-7459.2005.1.112262.