Kulinich, O., Glauberman, M., Chemeresuk, G. і Yatsunsky, I. (2017) «ДОСЛІДЖЕННЯ ПРИЧИН КАТАСТРОФІЧНОЇ ДЕГРАДАЦІЇ ПАРАМЕТРІВ КРЕМНІЄВИХ МОН — ТРАНЗИСТОРІВ», Сенсорна електроніка і мікросистемні технології, 2(1), с. 85–89. doi: 10.18524/1815-7459.2005.1.112262.