[1]
V. I. Chegel і Y. M. Shirshov, «СПЕКТРОСКОПІЯ З ВИКОРИСТАННЯМ ПОВЕРХНЕВОГО ПЛАЗМОННОГО РЕЗОНАНСУ: МОЖЛИВОСТІ ТА ОБМЕЖЕННЯ», Сенсор. електроніка і мікросистем. технології, т. 1, вип. 2, с. 34–49, Жов 2017.