[1]
D. A. Korchevsky, I. M. Shpinareva, і A. V. Ignatenko, «ДЕТЕКТУВАННЯ СТОХАСТИЧНОСТІ АТОМНИХ СИСТЕМ НА ПІДСТАВІ АНАЛІЗУ РЕКУРЕНТНИХ СПЕКТРІВ У СХРЕЩЕННИХ ЕЛЕКТРИЧНОМУ І МАГНІТНОМУ ПОЛЯХ», Сенсор. електроніка і мікросистем. технології, т. 2, вип. 1, с. 21–26, Жов 2017.