O. Kulinich, M. Glauberman, G. Chemeresuk, і I. Yatsunsky, «ДОСЛІДЖЕННЯ ПРИЧИН КАТАСТРОФІЧНОЇ ДЕГРАДАЦІЇ ПАРАМЕТРІВ КРЕМНІЄВИХ МОН — ТРАНЗИСТОРІВ», Сенсор. електроніка і мікросистем. технології, т. 2, вип. 1, с. 85–89, Жов 2017.