[1]
О. Л. Кукла, А. В. Мамикін, А. С. Майстренко, і О. С. Павлюченко, «Експрес аналізатор параметрів функциональних матеріалів на основі методу імпедансної спектроскопії», Сенсор. електроніка і мікросистем. технології, т. 9, вип. 3, Лип 2012.