[1]
B. V. Pavlyk, A. S. Hrypa, D. P. Slobodzyan, R. M. Lys, R. I. Didyk, і J. A. Shykoryak, «ПЕРЕБУДОВА ДЕФЕКТІВ В ПОВЕРХНЕВО-БАР’ЄРНИХ СТРУКТУРАХ Bi-Si-Al СТИМУЛЬОВАНА ДІЄЮ РАДІАЦІЇ», Сенсор. електроніка і мікросистем. технології, т. 7, вип. 4, с. 37–41, Лис 2010.