[1]
Ю. О. Гордієнко, С. Ю. Ларкін, Я. І. Лепіх, С. В. Лєнков, В. О. Проценко, і М. М. Ваків, «ТЕОРЕТИЧНІ АСПЕКТИ МОДЕЛЮВАННЯ ТА ПРОЕКТУВАННЯ РЕЗОНАТОРНИХ ЗОНДІВ ДЛЯ СКАНУЮЧОЇ МІКРОХВИЛЬОВОЇ МІКРОСКОПІЇ», Сенсор. електроніка і мікросистем. технології, т. 8, вип. 3, с. 97–107, Сер 2011.