[1]
В. П. Махній, М. М. Березовський, В. М. Склярчук, і О. М. Сльотов, «ВИЗНАЧЕННЯ ВИСОТИ БАР’ЄРА КОНТАКТІВ Ni - НАПІВПРОВІДНИК ФОТОЕЛЕКТРИЧНИМ МЕТОДОМ», Сенсор. електроніка і мікросистем. технології, т. 15, вип. 2, с. 13–19, Лип 2018.