[1]
В. Г. Мельник, П. І. Борщов, В. К. Бєляєв, О. Д. Василенко, О. Л. Ламеко, і О. В. Сліцький, «УДОСКОНАЛЕННЯ ГЕНЕРУВАННЯ ТЕСТОВИХ СИГНАЛІВ ДЛЯ ВИЗНАЧЕННЯ ПАРАМЕТРІВ ІМПЕДАНСУ В ШИРОКОМУ ДІАПАЗОНІ ЧАСТОТ», Сенсор. електроніка і мікросистем. технології, т. 17, вип. 2, с. 60–72, Лип 2020.