[1]
В. Г. Мельник, С. В. Дзядевич, П. І. Борщев, В. К. Беляєв, О. Д. Василенко, і Н. Жаффрезік-Рено, «АПАРАТНО-ПРОГРАМНИЙ КОМПЛЕКС ДЛЯ КОНДУКТОМЕТРИЧНИХ ВИМІРЮВАНЬ З ВИСОКОЮ МЕТРОЛОГІЧНОЮ НАДІЙНІСТЮ», Сенсор. електроніка і мікросистем. технології, т. 20, вип. 3, с. 59–78, Вер 2023.