Kulinich, O., M. Glauberman, G. Chemeresuk, і I. Yatsunsky. «ДОСЛІДЖЕННЯ ПРИЧИН КАТАСТРОФІЧНОЇ ДЕГРАДАЦІЇ ПАРАМЕТРІВ КРЕМНІЄВИХ МОН — ТРАНЗИСТОРІВ». Сенсорна електроніка і мікросистемні технології 2, no. 1 (Жовтень 17, 2017): 85–89. дата звернення Лютий 17, 2026. http://semst.onu.edu.ua/article/view/112262.