Онанко, А. П., О. В. Ляшенко, Г. Т. Продайвода, С. А. Вижва, і Ю. А. Онанко. «ВПЛИВ ТЕМПЕРАТУРИ, УЛЬТРАЗВУКУ, ЕЛЕКТРИЧНОГО СТРУМУ НА НЕПРУЖНОПРУЖН І ХАРАКТЕРИСТИКИ, РЕЛАКСАЦІЙНІ ПРОЦЕСИ В Ge-Si ТА SiO2». Сенсорна електроніка і мікросистемні технології 8, no. 3 (Серпень 7, 2011): 14–21. дата звернення Лютий 17, 2026. http://semst.onu.edu.ua/article/view/117744.