Мельник, В. Г., С. В. Дзядевич, П. І. Борщев, В. К. Беляєв, О. Д. Василенко, і Ніколь Жаффрезік-Рено. «АПАРАТНО-ПРОГРАМНИЙ КОМПЛЕКС ДЛЯ КОНДУКТОМЕТРИЧНИХ ВИМІРЮВАНЬ З ВИСОКОЮ МЕТРОЛОГІЧНОЮ НАДІЙНІСТЮ». Сенсорна електроніка і мікросистемні технології 20, no. 3 (Вересень 20, 2023): 59–78. дата звернення Грудень 6, 2025. http://semst.onu.edu.ua/article/view/288160.