Kulinich O, Glauberman M, Chemeresuk G, Yatsunsky I. ДОСЛІДЖЕННЯ ПРИЧИН КАТАСТРОФІЧНОЇ ДЕГРАДАЦІЇ ПАРАМЕТРІВ КРЕМНІЄВИХ МОН — ТРАНЗИСТОРІВ. Сенсор. електроніка і мікросистем. технології [інтернет]. 17, Жовтень 2017 [цит. за 06, Грудень 2025];2(1):85-9. доступний у: http://semst.onu.edu.ua/article/view/112262