Khetselius OY, Turin AV, Sukharev DE, Florko TA. ДОСЛІДЖЕННЯ РЕНТГЕНІВСЬКИХ СПЕКТРІВ КАОННИХ ТА ПІОННИХ АТОМІВ ЯК ЗАСІБ ДЛЯ ДЕТЕКТУВАННЯ ЯДЕРНОЇ СТРУКТУРИ. Сенсор. електроніка і мікросистем. технології [інтернет]. 10, Лютий 2009 [цит. за 17, Лютий 2026];6(1):30-5. доступний у: http://semst.onu.edu.ua/article/view/115362