Мельник ВГ, Дзядевич СВ, Борщев ПІ, Беляєв ВК, Василенко ОД, Жаффрезік-Рено Н. АПАРАТНО-ПРОГРАМНИЙ КОМПЛЕКС ДЛЯ КОНДУКТОМЕТРИЧНИХ ВИМІРЮВАНЬ З ВИСОКОЮ МЕТРОЛОГІЧНОЮ НАДІЙНІСТЮ. Сенсор. електроніка і мікросистем. технології [інтернет]. 20, Вересень 2023 [цит. за 06, Грудень 2025];20(3):59-78. доступний у: http://semst.onu.edu.ua/article/view/288160