http://semst.onu.edu.ua/issue/feed Сенсорна електроніка і мікросистемні технології 2024-03-29T12:58:10+02:00 Лепіх Ярослав Ілліч / Lepikh Yaroslav semst-journal@onu.edu.ua Open Journal Systems <p>Науковий журнал <strong>«Сенсорна електроніка і мікросистемні технології»</strong>, заснований у 2003 році, публікує статті, короткі повідомлення, листи до Редакції, а також коментарі, що містять результати фундаментальних і прикладних досліджень, за наступними напрямками:</p> <ul> <li>Фізичні, хімічні та інші явища, на основі яких можуть бути створені сенсори</li> <li>Проектування і математичне моделювання сенсорів</li> <li>Сенсори фізичних величин</li> <li>Оптичні, оптоелектронні і радіаційні сенсори</li> <li>Акустоелектронні сенсори</li> <li>Хімічні сенсори</li> <li>Біосенсори</li> <li>Наносенсори (фізика, матеріали, технологія)</li> <li>Матеріали для сенсорів</li> <li>Технологія виробництва сенсорів</li> <li>Сенсори та інформаційні системи</li> <li>Мікросистемні та нанотехнології (MST, LІGA-технологія, актюатори та ін.)</li> <li>Деградація, метрологія і сертифікація сенсорів.</li> </ul> <p><strong>ISSN </strong><a style="background-color: #ffffff;" href="https://portal.issn.org/resource/ISSN/1815-7459" target="_blank" rel="noopener">1815-7459</a> (друкована версія) <strong>eISSN </strong><a style="background-color: #ffffff;" href="https://portal.issn.org/resource/ISSN/2415-3508" target="_blank" rel="noopener">2415-3508</a> (онлайн-версія)<br /><strong>DOI </strong><a href="https://www.doi.org/10.18524/1815-7459" target="_blank" rel="noopener">10.18524/1815-7459</a></p> <p><strong>Свідоцтво про державну реєстрацію друкованого засобу масової інформації</strong> <em>(чинне до 31 березня 2024 р.)</em>:<br /><a href="http://semst.onu.edu.ua/libraryFiles/downloadPublic/2069" target="_blank" rel="noopener">КВ № 8131 від 13.11.2003 р.</a></p> <p>Згідно з Рішенням Національної ради України з питань телебачення і радіомовлення <a href="https://webportal.nrada.gov.ua/decisions/pro-zayavy-odeskogo-natsionalnogo-universytetu-imeni-i-i-mechnykova-m-odesa-shhodo-reyestratsiyi-sub-yekta-u-sferi-drukovanyh-media-oprylyudneno-29-03-2024/" target="_blank" rel="noopener">№ 1050 від 28.03.2024 р.</a> журнал зареєстрований як друковане медіа і внесений до <strong>Реєстру суб'єктів у сфері медіа</strong> з ідентифікатором <strong>R30-03678</strong>.</p> <p>Журнал внесено до <strong><a href="https://nfv.ukrintei.ua/view/5b1925e27847426a2d0ab644" target="_blank" rel="noopener">категорії «Б»</a></strong> <strong>Переліку наукових фахових видань України </strong>наказами Міністерства освіти і науки України:<br /><a href="https://mon.gov.ua/ua/npa/pro-zatverdzhennya-rishen-atestacijnoyi-kolegiyi-ministerstva-vid-6-bereznya-2020-roku" target="_blank" rel="noopener">№ 409 від 17.03.2020 р.</a> в галузі <strong>«Фізико-математичні науки»</strong> за спеціальностями <strong>104 Фізика та астрономія</strong> і <strong>105 Прикладна фізика та наноматеріали</strong>;<br /><a href="https://mon.gov.ua/ua/npa/pro-zatverdzhennya-rishen-atestacijnoyi-kolegiyi-ministerstva-vid-2-lipnya-2020-roku" target="_blank" rel="noopener">№ 886 від 02.07.2020 р.</a> в галузі <strong>«Технічні науки»</strong> за спеціальністю <strong>171 Електроніка</strong>;<br /><a href="https://mon.gov.ua/ua/npa/pro-zatverdzhennya-rishen-atestacijnoyi-kolegiyi-ministerstva-vid-24-veresnya-2020-roku" target="_blank" rel="noopener">№ 1188 від 24.09.2020 р.</a> в галузі <strong>«Біологічні науки»</strong> за спеціальністю <strong>091 Біологія та біохімія</strong>.</p> <p><strong>Періодичність виходу: </strong>4 рази на рік<br /><strong>Мови видання: </strong>англійська, українська<br /><strong>Засновник: </strong><a href="http://onu.edu.ua/uk/">Одеський національний університет імені І. І. Мечникова</a><br /><strong>Головний редактор: </strong>Сминтина Валентин Андрійович, д-р фіз.-мат. наук, проф. <br /><strong>Заступник головного редактора: </strong>Лепіх Ярослав Ілліч, д-р фіз.-мат. наук, проф. <br /><strong>Адреса редакції: </strong>Одеський національний університет імені І. І. Мечникова, вул. Дворянська, 2, м. Одеса, Україна 65082<br /><strong>Електронна адреса: </strong><a href="mailto:semst-journal@onu.edu.ua">semst-journal@onu.edu.ua</a><br /><strong>Попередня версія сайту:</strong> <a href="http://old.semst.onu.edu.ua">http://old.semst.onu.edu.ua</a></p> <p><strong>Журнал реферується та індексується в таких базах даних:</strong> <a href="http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/13197">Інституційний репозитарій Одеського національного університету ім. І. І. Мечникова</a>; <a href="http://www.irbis-nbuv.gov.ua/cgi-bin/irbis_nbuv/cgiirbis_64.exe?Z21ID=&amp;I21DBN=UJRN&amp;P21DBN=UJRN&amp;S21STN=1&amp;S21REF=10&amp;S21FMT=juu_all&amp;C21COM=S&amp;S21CNR=20&amp;S21P01=0&amp;S21P02=0&amp;S21P03=PREF=&amp;S21COLORTERMS=0&amp;S21STR=seimt">«Наукова періодика України» Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського</a>; <a href="http://www.irbis-nbuv.gov.ua/cgi-bin/irbis_nbuv/cgiirbis_64.exe?Z21ID=&amp;I21DBN=REF&amp;P21DBN=REF&amp;S21STN=1&amp;S21REF=10&amp;S21FMT=fullwebr&amp;C21COM=S&amp;S21CNR=20&amp;S21P01=0&amp;S21P02=0&amp;S21P03=I=&amp;S21COLORTERMS=1&amp;S21STR=%D0%9624835">«Україніка наукова»</a>; <a href="http://jml.indexcopernicus.com/search/details?id=33098">Index Copernicus Journals Master List</a>; <a href="http://ulrichsweb.serialssolutions.com/login">Ulrich’s Periodicals Directory</a>; <a href="https://scholar.google.com.ua/scholar?as_q=&amp;as_epq=&amp;as_oq=&amp;as_eq=&amp;as_occt=any&amp;as_sauthors=&amp;as_publication=Sensor+Electronics+and+Microsystem+Technologies&amp;as_ylo=&amp;as_yhi=&amp;btnG=&amp;hl=uk&amp;as_sdt=1%2C5">Google Академія</a>; <a href="https://www.worldcat.org/search?qt=worldcat_org_all&amp;q=1815-7459">WorldCat</a>; <a href="https://www.ebsco.com/products/research-databases/applied-science-technology-source-ultimate">EBSCO Applied Science &amp; Technology Source Ultimate</a>.</p> http://semst.onu.edu.ua/article/view/300942 МОРФОЛОГІЧНІ, ОПТИЧНІ ВЛАСТИВОСТІ ТА ЕЛЕКТРОННА БУДОВА ТОНКИХ ПЛІВОК ZnO ДОПОВАНИХ АЛЮМІНІЄМ 2024-03-29T12:58:05+02:00 В. В. Заіка zaikavladimir228@gmail.com Н. К. Швачко nazarii1999@gmail.com <p>В даній роботі представлені результати досліджень тонких плівок окисі цинку допованих алюмінієм, які отримані методом радіочастотного магнетронного нанесення на скляній підкладці. За допомогою енергодисперсійного рентгенівського аналізу показано, що середній вміст алюмінію в тонких плівках становив 0.2–0.8 at.%. Було показано ріст середнього розміру нанозерен при збільшенні концентрації алюмінію, а також за допомогою мікроскопічних знімків поперечного перерізу було встановлено стовпчастий ріст плівок. Дослідження електронної будови показали перерозподіл інтенсивності в O 1<em>s</em> спектрі після допування алюмінієм. Також були отримані спектри валентної зони, та проведені теоретичні розрахунки в рамках теорії функціоналу густини для кращої інтерпретації отриманих результатів. Методом Таука була визначена ширина забороненої зони яка становила 3.41еВ, тоді як в рамках DFT розрахунків заборонена зона становила 1.25 еВ.</p> 2024-03-27T00:00:00+02:00 Авторське право (c) 2024 http://semst.onu.edu.ua/article/view/300025 ЕЛЕКТРИЧНЕ ПЕРЕМИКАННЯ В СКЛОКЕРАМІЧНИХ СТРУКТУРАХ НА ОСНОВІ ДІОКСИДУ ВАНАДІЮ 2024-03-16T16:31:23+02:00 В. Р. Колбунов kolbunov_vadim@i.ua М. П. Трубіцин trubitsyn_m@ua.fm А. О. Дяченко annadiachenko459@gmail.com <p>В роботі вивчено зміни електричного струму під час перемикання зразків склокераміки на основі діоксиду ванадію зі стану з великим опором (off-state) у стан із малим опором (on-state) і зворотно. Затримка переходу з off-state в on-state, при застосуванні до зразка склокераміки перемикаючої напруги <em>U<sub>0</sub></em>, пов’язана з часом <em>t<sub>don</sub></em>, необхідним для його розігріву до температури фазового переходу метал-напівпровідник у VO<sub>2</sub>. Час затримки <em>t<sub>don</sub></em> зменшується зі зростанням <em>U<sub>0</sub></em>. Встановлено, що затримку зворотного переходу з on-state в off-state контролює шнур струму, в межах якого кристаліти VO<sub>2</sub> склокераміки перебувають у металевій фазі. Час затримки <em>t<sub>doff</sub></em> цього переходу визначає час, упродовж якого в зразку VO<sub>2</sub>-склокераміки існує шнур струму після вимкнення напруги U<sub>0</sub>. Величина <em>t<sub>doff</sub></em> зростає при збільшенні <em>U<sub>0</sub></em>.</p> 2024-03-27T00:00:00+02:00 Авторське право (c) 2024 http://semst.onu.edu.ua/article/view/300140 МОДЕЛЮВАННЯ АНАЛОГО-ЦИФРОВИХ ПЕРЕТВОРЮВАЧІВ СИГНАЛІВ ДЛЯ СЕНСОРНИХ МІКРОСИСТЕМ У ПРОГРАМНОМУ СЕРЕДОВИЩІ MICROWIND 2024-03-18T12:30:56+02:00 Л. І. Никируй lyubomyr.nykyruy@pnu.edu.ua Р. В. Ільницький roman.ilnitsky@pnu.edu.ua М. Ф. Павлюк myroslav.pavlyuk@pnu.edu.ua <p>Для моделювання роботи аналого-цифрових перетворювачів обрано перетворювач АЦП послідовного наближення (SAR ADC). АЦП із послідовним наближенням – це тип аналого-цифрового перетворювача, який перетворює неперервну аналогову форму сигналу в дискретне цифрове представлення за допомогою двійкового пошуку через усі можливі рівні квантування перед остаточним зближенням до цифрового виходу для кожного перетворення. В архітектурі SAR ADC є три важливі блоки: схема вибірки та зберігання (Sample and Hold, S/H), компаратор і блок SAR. Топологія та принцип роботи змодельовано в програмному середовищі Micro Wind.</p> 2024-03-27T00:00:00+02:00 Авторське право (c) 2024 http://semst.onu.edu.ua/article/view/300941 ПРО ФІЗИЧНУ ПРИРОДУ ПОЛЬОВОЇ ЕМІСІЇ З НАНОАРКУШІВ ZnO 2024-03-29T12:58:10+02:00 М. В. Стріха maksym.strikha@gmail.com Р. С. Хілініч maksym.strikha@gmail.com <p>Проведений аналіз дозволяє встановити фізичну природу процесу польової емісії з наноаркушів ZnO. Показано, що можливому діапазону ефективних значень роботи виходу з вершини наноаркуша відповідають значення коефіцієнту підсилення поля <em>β</em> порядку 20000. Таким значенням <em>β</em> і висоті наноаркуша порядку мкм відповідають субнанометрові величини радіуса вершини наноаркуша, що добре узгоджується з експериментально відомим фактом: польова емісія з наноструктурованої поверхні майже вся відбувається з кількох верхніх атомів нанопротрузії. Отже, ефективна емісія відбувається лише з вельми незначної частини загальної поверхні катоду, проте велике значення коефіцієнта підсилення поля <em>β</em> забезпечує помітне значення густини емісійного струму порядку 3∙10<sup>-4</sup> А/м<sup>2</sup> для поля вмикання порядку 3∙10<sup>6</sup> В/м.</p> 2024-03-27T00:00:00+02:00 Авторське право (c) 2024