[1]
Мельник, В.Г., Дзядевич, С.В., Борщев, П.І., Беляєв, В.К., Василенко, О.Д. і Жаффрезік-Рено, Н. 2023. АПАРАТНО-ПРОГРАМНИЙ КОМПЛЕКС ДЛЯ КОНДУКТОМЕТРИЧНИХ ВИМІРЮВАНЬ З ВИСОКОЮ МЕТРОЛОГІЧНОЮ НАДІЙНІСТЮ. Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. 20, 3 (Вер 2023), 59–78. DOI:https://doi.org/10.18524/1815-7459.2023.3.288160.