CHERNYAKOVA, Y. G.; IGNATENKO, V. M.; VITAVETSKAYA, L. A. ДЕТЕКТУВАННЯ ПАРАМЕТРІВ ПЛАЗМИ ТОКАМАКА НА ОСНОВІ МЕТОДУ ВИСОКО ВИРІШЕНОЇ РЕНТГЕНІВСЬКОЇ ТЕОРЕТИЧНОЇ СПЕКТРОСКОПІЇ: НОВА СХЕМА. Сенсорна електроніка і мікросистемні технології, [S. l.], v. 1, n. 2, p. 20–24, 2017. DOI: 10.18524/1815-7459.2004.2.111887. Disponível em: https://semst.onu.edu.ua/article/view/111887. Acesso em: 11 бер. 2026.