ОСНОВИ ВИСОКОЛОКАЛЬНОЇ НВЧ СЕНСОРІКИ
DOI:
https://doi.org/10.18524/1815-7459.2014.4.108313Ключові слова:
сенсорика, ближньопольова мікроскопія, апертура, область накопичення, характеристики перетворенняАнотація
Створено теоретичні передумови розробки нового покоління ближньопольових мікрохвильових датчиків для контролю середовищ і функціональних матеріалів з широким спектром локальності, які є базою високолокальної НВЧ сенсорики. Системно досліджено характеристики перетворення таких датчиків, показано зв'язок втрат на випромінювання з розмірами апертури зонда і електрофізичними параметрами об'єкта дослідження. Запропоновано спосіб вирішення задачі одночасного підвищення локальності і чутливості датчиків. Розроблено схему виділення та обробки сигналів вимірювальної інформації з використанням сучасних досягнень аналого-цифрового перетворення і мікропроцесорної техніки.Посилання
Anlage S.M. Principles of near-field microwave microscopy / Anlage S.M., Talanov V.V., Schwartz A.R. // Scanning Probe Microscopy: electrical and electromechanical phenomena at nanoscale – New York: Springer-Verlag, 2007. – vol.1. – p. 215–253.
Gordiyenko Yu.O. Skanuyucha mikrokhvylyova mikroskopiya yak intelektual’na vymiryuval’na systema / Intelektualʹni vymiryuval’ni systemy na osnovi mikroelektronnykh datchykiv novoho pokolinnya: monohrafiya // za red. Lepikha Ya.I., Romanova V.O. – Odesa : Astroprynt, 2011. – S. 176–246.
Anlage S.M. Near-field microwave microscopy of materials properties / Anlage S.M., Steinhauer D.E., Feenstra B.J., Vlahacosand C.P., Wellstood F.C.// Center for Superconductivity Research, and Materials Research Science and Engineering Center, Department of Physics, University of Maryland, College Park, Maryland 20742-4111 USA. 2000. P.1–31.
Gao, C. High spatial resolution quantitative microwave impedance microscopy by a scanning tip microwave near-field microscope / C. Gao, T. Wei, F. Duewer, Y. Lu, X.-D. Xiang // Appl. Phys. Lett. – 1997. – V. 71, No 13. – Р. 1872–1874.
Gordiyenko YU.Ye. Sravnitel’nyy analiz kharakteristik rezonatornykh zondov dlya SMM / Gordiyenko YU.Ye., Kamyshan A.A., Larkin S.YU. //Radioelektronikai ínformatika. – 2011. - №1. – S. 24-29.
Imtiaz, A. Near-field microwave microscopy on nanometer length scales / A. Imtiaz, M. Pollak, S. M. Anlage, J. D. Barry, J. Melngailis // Journal of applied physics. – 2005. – V. 97, N.4.– P. 044302-1–044302-6.
Gordiyenko Yu.E. Radiatsionnyye effekty v blizhnepolevoy mikrovolnovoy mikroskopii poluprovodnikov / Gordiyenko Yu.E., Larkin S.Yu., Soroka A.S. // Radiotekhnika. – Khar’kov, 2011. – Vyp. 164. – S. 180-189
Gordiyenko Yu.E. Blizhnepolevoy SVCH datchik na osnove konusnogo koaksial’nogo rezonatora / Gordiyenko Yu.E., Larkin S.Yu., Yatskiv A.M. // Vishcha shkola: Radiotekhnika: Vseukr. mezhved. nauchn.-tekhn. sb. – 2009. – №159.S.309-314.
Gordienko Yu.E. Quantitative estimation of physical processes at a contactless scanning microwave microscopy / Gordienko Yu.E., Larkin S.Yu., Prokaza A.M. // Telecommunications and Radio Engineering, 2012, vol. 71, № 3, p. 265 – 276.
Duewer F. Tip-sample distance feedback control in a scanning evanescent microwave microscope / Duewer F., Gao C., Takeuchi I.,. Xiang X.-D // Applied physics letters Vol. 74, No. 18, 1999.
Bondarenko I.N. Applica-tion of the AFC system measuring generator in microwave scanning microscopy / Bondarenko I.N., Gordienko Yu.E., Larkin S.Yu // Radioelectronics and Informatics 2009. No 3, pp. 3-6.
Gordiyenko Yu.E. APCH zadayushchego generatora v SVCH diagnostike poluprovodnikov i metamaterialov / Gordiyenko Yu.E., Polishchuk A.V., Slipchenko N.I. // SVCH-tekhnika i telekommunikatsionnyye tekhnologii: materialy 24-y Mezhdunar. Krymskoy konf. (KryMiKo’2014), Sevastopol’: Veber, 2014. С. 994–995.
##submission.downloads##
Опубліковано
Номер
Розділ
Ліцензія
Авторське право (c) 2014 Сенсорна електроніка і мікросистемні технології
Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License.
Авторське право переходить Видавцю.
