ФІЗИЧНІ ОСНОВИ СТВОРЕННЯ СЕНСОРІВ МЕХАНІЧНИХ ВЕЛИЧИН ДЛЯ НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР НА ОСНОВІ МІКРОКРИСТАЛІВ КРЕМНІЮ
DOI:
https://doi.org/10.18524/1815-7459.2006.3.112460Ключові слова:
п’єзоопір, кремній, мікрокристали, кріогенні температури, сенсори механічних величинАнотація
Проведено комплексне дослідження електропровідністі, магнітоопору і п’єзоопору мікрокристалів кремнію р-типу, легованих бором, з орієнтацією <111> в діапазоні температур 4,2–300 К і магнітних полях до 14 Тл. Досліджено вплив одновісної деформації на питомий опір і магнітоопір мікрокристалів Si з різною концентрацією бору при низьких температурах. В мікрокристалах р-Si з концентрацією бору поблизу переходу метал-діелектрик (ПМД) з діелектричного боку при гелієвих температурах виявлено гігантський некласичний п’єзоопір, коефіцієнт тензочутливості таких кристалів при 4,2 К дорівнює GF4.2K=–5.7Ч105 при деформації стиску. Некласичний п’єзоопір зумовлений стрибковою провідністю в цих кристалах при низьких температурах; визначено енергії активації E2 і E3, їх значення змінюються під дією деформації при кріогенних температурах. Вимірювались тензометричні характеристики цих кристалів, закріплених на пружних елементах з інвару, в широкому діапазоні температур 4,2–300 К і деформацій ε=0–±1,2Ч10-3 відн. од. Одержані характеристики дозволяють прогнозувати параметри п’єзорезистивних сенсорів механічних величин на основі цих кристалів. Показано можливість створення надчутливих сенсорів механічних величин для роботи при кріогенних температурах на основі некласичного п’єзоопору в мікрокристалах Si(B). Наведено приклади розроблених сенсорів деформації, сенсора тиску та сенсора рівня кріогенних рідин.Посилання
Дружинин А.А., Марьямова И.И., Лавитская Е Н., Кутраков А.П., Панков Ю.М. Полуп-
роводниковые сенсоры механических величин на основе микрокристаллов кремния для экстремальных условий // Микросистемная техника. — 2001. — № 9. — C. 3-8.
Дружинин А.А., Марьямова И.И., Лавитская Е. Н., Кутраков А.П., Панков Ю.М.. От полупроводниковых тензорезисторов к мик-
роэлектронным датчикам // Датчики и системы. — 2001. — № 6. — C. 2-7.
Шкловский В.И., Эфрос А.Л. Электронные свойства легированных полупроводников. — М.: Наука, 1979. — 416 с.
Chrobochek J.A., Pollak R.H., Staunton H.F. Impurity conduction in silicon and effect of uniaxial compression on p-type silicon // Philosophical Magazine B. — 1984. — Vol. 50, No. 1. — P. 113-156.
Bogdanovich S., Sarachik M.P., Bhatt R.N. Conductivity of metallic Si:B near the metal-insulator transition: comparison between unstressed and uniaxially stressed samples // Phys. Rev. B — 1999. — Vol. 60, No. 4. — P. 2292-2298.
Druzhinin A., Lavitska E., Maryamova I., Oszwaldowski M., Berus T., Kunert H. Studies of piezoresistance and piezomagnetoresistance in Si whiskers at cryogenic temperatures // Crystal Research and Technology. — 2002. — Vol. 37, No. 2-3. — P. 243-257.
Druzhinin A.A., Maryamova I.I., Kutrakov O.P., Pavlovskyy I.V. Silicon microcrystals with high piezoresistance at cryogenic temperatures for sensors application // Сенсорна електроніка та мікросистемні технології. — 2004. — № 1. — С. 69-77.
Дружинін А.О., Павловський І.В. Деформаційні залежності магнітоопору ниткоподібних кристалів кремнію в області фазового переходу метал-діелектрик // V Міжнародна школа-конференція “Актуальні проблеми фізики напівпровідників”. Тези доповідей. — Дрогобич: НВЦ “Каменяр”. — 2005. — С. 216-217.
Дружинін А.О., Мар’ямова І.Й., Кутраков О.П., Павловський І.В. Тензометричні характеристики мікрокристалів кремнію при кріогенних температурах // Сенсорна електроніка та мікросистемні технології. — 2005. — № 3. — С. 74–81.
##submission.downloads##
Опубліковано
Номер
Розділ
Ліцензія
Авторське право (c) 2006 Сенсорна електроніка і мікросистемні технології
Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License.
Авторське право переходить Видавцю.