УЗАГАЛЬНЕНИЙ КОМПЛЕКСНИЙ ПОКАЗНИК ЯКОСТІ КРЕМНІЄВИХ ФОТОЕЛЕКТРИЧНИХ ПЕРЕТВОРЮВАЧІВ ДЛЯ АПАРАТУРИ СПЕЦІАЛЬНОГО ПРИЗНАЧЕННЯ

Автор(и)

  • S. V. Lenkov Військовий інститут Київського національного університету імені Тараса Шевченка, Україна
  • Ya. I. Lepikh Одеський національний університет імені І.І. Мечникова, Україна
  • V. A. Mokritsky Одеський національний політехнічний університет, Україна
  • D. V. Lukomsky Військовий інститут Київського національного університету імені Тараса Шевченка, Україна
  • M. M. Ohramovich Військовий інститут Київського національного університету імені Тараса Шевченка, Україна

DOI:

https://doi.org/10.18524/1815-7459.2009.4.116049

Ключові слова:

фотоелектричний перетворювач, технологічний процес, опромінення, текстурування, дефекти, ямки травлення

Анотація

У даній статті описано новий спосіб аналізу та керування параметрами ФЕП для апаратури спеціального призначення за допомогою узагальненого комплексного показника якості та надійності. Запропонований параметр Q дозволяє не тільки керувати процесом виготовлення кремнієвих ФЕП, але і проводити аналіз рівня їх якості та оцінювати дефектність готових виробів.

Посилання

Рейви К. Дефекты и примеси в полупроводниковом кремнии: Пер. с англ. — М.: Мир, 1984. — 475 с.

С.В. Ленков, В.А. Мокрицкий, Д.А. Перегудов, Г.Т. Тариелашвили. Физико-технические основы радиационной технологи полупроводников. — Одеса. — 2002. С. 33-67.

Сердюк Г.Б., Усатенко В.Г. Электрофизические методы диагностирования в задачах управления качеством и надежностью. — К.:Знание, — 1989. С. 24-30.

Фаренбрух А., Бьюб Р. Солнечные елементы:теория и эксперемент/ Пер. с анг. под. ред. М.М. Колтуна.-М.: Энергоатомиздат, 1987.-280с.

Лєнков С.В., Лукомський Д.В. Комплексний параметр якості та надійності кремнієвих фотоелектричних перетворювачів // Збірник наукових праць ВІТІ НТУУ “КПІ”. — К. — 2005. — №1. — С. 81-89.

Охрамович М.М. Аналіз результатів опромінення потоком швидких електронів твердотільних

кремніевих ФЕП для ФЕСБ спеціального призначення // Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Військовоспеціальні науки. — 2009. — №22. — С. 19-23.

Перевозчиков В.А. Особенности абразивной и химической обработки полупроводников. — Н. Новгород: Электроника, -1992. — 132 с.

Готра З.Ю., Николаев И.М. Контроль качества и надежность микросхем. — М.: Радио и связь, — 1989. — 168 с.

##submission.downloads##

Опубліковано

2009-11-24

Номер

Том 6 № 4 (2009)

Розділ

Оптичні, оптоелектронні і радіаційні сенсори

Ліцензія

Авторське право (c) 2009 Сенсорна електроніка і мікросистемні технології

Creative Commons License

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License.

Авторське право переходить Видавцю.