ВИЯВЛЕННЯ ОЗНАК ДЕГРАДАЦІЇ ФОСФІД-ГАЛІЄВИХ СВІТЛОДІОДІВ ЗА РІВНЕМ НИЗЬКОЧАСТОТНИХ ШУМІВ
DOI:
https://doi.org/10.18524/1815-7459.2022.4.271200Ключові слова:
світлодіод, шум, деградаціяАнотація
Розглядаються результати вимірювань низькочастотних шумів світлодіодів. Встановлено, що світлодіоди з підвищеним рівнем шумів або з аномальною кінетикою зростання в перші години випробувань потенційно ненадійні, тобто виявляють надалі швидку чи катастрофічну деградацію (відмова). Показана перспективність шумових вимірів для відбору світлодіодів за показниками надійності.
Посилання
L. P. Egorov, S. S. Nikiforov, V. A. Vorotinsky. Forsirovannyye ispytaniya dlya otsenki nadezhnosti svetoizluchayushchikh priborov. Electronic engineering. Series 2. Semiconductor devices. No. 7, pp. 113–116. 1989.
I. M. Vikulin, V. I. Irha, B. V. Korobitsyn, V. E. Gorbachev. Zakonomernosti degradatsii svetoizluchayushchikh diodov. Tekhnologiya i Konstruirovanie v Elektronnoi Apparature. No. 2, pp. 55–56. 2004.
A. A. Polishchuk, A. V. Turkin. Degradatsiya poluprovodnikovykh svetodiodov na osnove nitrida galliya i yego tverdykh rastvorov. Komponenty i tekhnologii. No. 2, pp. 25–28. 2008.
A. A. Chernyshov. Osnovy nadezhnosti poluprovodnikovykh priborov i integralnykh mikroskhem [monografiya]. Radio i svyaz, M. 256 p. 1988.
N. N. Averkiev, M. E. Levinshtein, P. V. Petrov. Osobennosti rekombinatsionnykh protsessov v svetodiodakh na osnove InGaN/GaN pri bolshikh plotnostyakh toka. Letters to JTF. vol. 35. No. 19, pp. 97–102. 2009.
R. V. Viter, V. S. Grinevich, K. Deutscho еt al. Neravnovesnyye protsessy v sensornykh nanostrukturakh. Under the general ed. V. A. Smyntyna, I. I. Mechnikov NU, Odesa. 2015.
##submission.downloads##
Опубліковано
Номер
Розділ
Ліцензія
Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License.
Авторське право переходить Видавцю.
