ФОРМУВАННЯ ОМІЧНОГО КОНТАКТУ В МІКРОЕЛЕКТРОННИХ ПРИСТРОЯХ З ПІДКЛАДКАМИ ЗІ ШПАРИСТОЮ ПОВЕРХНЕЮ
DOI:
https://doi.org/10.18524/1815-7459.2024.4.318866Ключові слова:
омічний контакт, шпариста поверхня підкладинки, силікатне склоАнотація
В технології приладобудування, зокрема технології елементної бази електроніки, (гібридні інтегральні схеми (ГІС), сенсори різного призначення тощо), що використовує ансамблі наночастинок напівпровідникових та інших матеріалів у шпаристій матриці, нерідко мають місце проблеми формування омічних контактів до зазначених систем особливо коли використовуються в якості підкладок матеріали зі шпаристою поверхнею. А, як відомо, якість контактів головним чином визначає надійність пристроїв, систем і радіоелектронної апаратури в цілому. Нами запропоновано і досліджено новий ефективний спосіб формування омічного контакту на підкладках зі шпаристою поверхнею, зокрема, скла.
Посилання
Mineeva M. A., Mooreakaeva G. A. Patent RF No 2084988. 20.07.1997, MPK H01L21/28. [in Russian].
W. X. Schroen, F. A. Padovani, and Н.Р.К. Hentzschel. US patent 3983264A, Feb. 2, 2011, МПК H01L29/452.
Jong Lam 25 Lee, Но Won Jang, Jong Kyu Kim, and Changmin Jeon. US patent 7214325B2. May 08, 2007, МПК H01L21/28575.
Doycho I. K., Lepikh Ya. I. Sposib vyhotovlennia omichnoho kontaktu do shparystoho skla Vynakhid PU228932. Data, z yakoi ye chynnymy prava: 28.11.2024. Zayavka а202202804 vid 05.08.2022. [in Ukrainian].
##submission.downloads##
Опубліковано
Номер
Розділ
Ліцензія
Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License.
Авторське право переходить Видавцю.