АНАЛІЗ ФАЗОВИХ РІВНОВАГ У ДВІЙКОВІЙ СИСТЕМІ А2 — В6 ZnTe

Автор(и)

  • С. В. Лєнков Військовий інститут Київського національного університету імені Тараса Шевченка, Ukraine
  • О. В. Банзак Одеська національна академія зв'язку імені О. С. Попова, Ukraine
  • О. В. Карпенко Військовий інститут Київського національного університету імені Тараса Шевченка, Ukraine

DOI:

https://doi.org/10.18524/1815-7459.2012.3.114975

Ключові слова:

діаграма стану, фазові рівноваги, оптична густина парів, телур, цинк

Анотація

У даній статті проведено аналіз побудованої P – T – X діаграми системи Zn-Te методом оптичної густини пару. Були виміряні парціальні тиски цинку та телуру над твердим Zn-Te для складу від 40 до 55 ат.% Te до температури 917°С.

Біографії авторів

С. В. Лєнков, Військовий інститут Київського національного університету імені Тараса Шевченка

S. V. Lenkov

О. В. Банзак, Одеська національна академія зв'язку імені О. С. Попова

O. V. Banzak

О. В. Карпенко, Військовий інститут Київського національного університету імені Тараса Шевченка

A. V. Karpenko

Посилання

Маслов О. В., Ленков С. В., Банзак О. В., Карпенко О. В. Погрешность измерения характеристик полей гамма-излучения детектором на основе Cd ZnTe // Збірник наукових праць Військового інституту Київського національного університету імені Тараса Шевченка. — К., 2012. — № 36. — С.173 — 182.

Лєнков С. В., Банзак О. В., Карпенко О. В. Порівняльний аналіз методів отримання та управління властивостями телуридів цинку і кадмію // Нові технології. — Кременчук, — 2011. — № 4(34). — С. 3–10.

Большакова Г. В. Исследование влияния различных примесей на структурные параметры кристаллов CdTe// Большакова Г. В., Леднева Ф. И., Кутовой И. С., Устинов В. М.- Электронная техника. Серия 6: Материалы. — Вып. 2 (256), 1991. — С. 2326.

##submission.downloads##

Опубліковано

2012-07-13

Номер

Розділ

Матеріали для сенсорів