АНАЛІЗ ФАЗОВИХ РІВНОВАГ У ДВІЙКОВІЙ СИСТЕМІ А2 — В6 ZnTe

С. В. Лєнков, О. В. Банзак, О. В. Карпенко

Анотація


У даній статті проведено аналіз побудованої P – T – X діаграми системи Zn-Te методом оптичної густини пару. Були виміряні парціальні тиски цинку та телуру над твердим Zn-Te для складу від 40 до 55 ат.% Te до температури 917°С.

Ключові слова


діаграма стану; фазові рівноваги; оптична густина парів; телур; цинк

Повний текст:

PDF (Русский)

Посилання


Маслов О. В., Ленков С. В., Банзак О. В., Карпенко О. В. Погрешность измерения характеристик полей гамма-излучения детектором на основе Cd ZnTe // Збірник наукових праць Військового інституту Київського національного університету імені Тараса Шевченка. — К., 2012. — № 36. — С.173 — 182.

Лєнков С. В., Банзак О. В., Карпенко О. В. Порівняльний аналіз методів отримання та управління властивостями телуридів цинку і кадмію // Нові технології. — Кременчук, — 2011. — № 4(34). — С. 3–10.

Большакова Г. В. Исследование влияния различных примесей на структурные параметры кристаллов CdTe// Большакова Г. В., Леднева Ф. И., Кутовой И. С., Устинов В. М.- Электронная техника. Серия 6: Материалы. — Вып. 2 (256), 1991. — С. 2326.




DOI: https://doi.org/10.18524/1815-7459.2012.3.114975

Посилання

  • Поки немає зовнішніх посилань.


Copyright (c) 2012 Сенсорна електроніка і мікросистемні технології

ISSN 1815-7459 (Print), 2415-3508 (Online)