DOI: https://doi.org/10.18524/1815-7459.2010.4.116318

ОСОБЛИВОСТІ ДЕФОРМАЦІЇ МЕЗАТЕНЗОРЕЗИСТОРІВ МІКРОННИХ РОЗМІРІВ

Victor A. Gridchin, Michail A. Chebanov

Анотація


Використовуючи техніку кінцево-елементного моделювання, досліджено вплив двогранних кутів в області переходу тензорезистивного шару до контактних площадок на розподіл деформацій у тілі мезатензорезистора. Показано вплив геометричних розмірів мезатензорезисторів на їхню чутливість.


Ключові слова


кінцево-елементне моделювання; сенсор тиску; мезатензорезистор; концентратор механічних напруг

Повний текст:

PDF (English)

Посилання


Jonston C. Electronics and Microsystems for high Temperatures — Markets and Applications, MSTnews, 2001, №4/01, p. 4–5.

Seryoznov A. N., Skotnikov A. A., Prisekin V. L. Semiconductor Piezoresistor Errors Conditioned with Glue Layer Thickness. // Semiconductor Strain Gauging. Materials of IVth Conference on Semiconductor Strain Gauging, 22–27.09, 199, Lvov, 1971, pp. 82–88. (in Russian).

Gridchin V. A., Lubimsky V. M. Polysilicon Piezoresistor Geometry Effects on Their Strain-Sensitivity // «Actual Problems of Electronic Instrument Engineering» APEIE-2004: Proceedings of VII International Conference, Novosibirsk, 22–25.09, 2004. Novosibirsk: NSTU Press, 2004. V. 2, pp. 5–11. (in Russian).

Gridchin V. A., Gridchin A. V., Bunzina V.Yu. Lateral Nano-Piezoresistor Strain-Sensitivity // Materials

of IX International Conferemce on Actual Problems of Electronic Instrument Engineering APEIE-2008, V. 2, 24–26.09, Novosibirsk, NSTU Press, 2008, pp. 11–14.

Gridchin V. A., Lubimsky V. M. Physico-Technological Problems of Polysilicon Tensoresistive Pressure Sensors Formation. Devices, No. 6 (60), pp. 23–27, 2005. (in Russian).

Lenk A., Electromechanische Sisteme, VEB-Verlag Technick, Berlin, 1975, Bd.3, 226 s.

Gridchin V. A. FEM Simulation of Piezoresistive Pressure Module / V. A. Gridchin, M. A. Chebanov // International School and Seminar on Modern Problems on Nanoelectronics, Micro- and Nanosystem Technologies Proceedings INTERNANO-2009: NSTU, Novosibirsk, Russia — October 28–31, 2009. — P. 44–46.

Lubimsky V. M. Design and Technology of Pressure ITP on the Basis of Polycrystalline Silicon Layers. // Thesis for Doctor of Technical Sciences, Novosibirsk, NSTU, 2005. (in Russian).

Toriyama T., Tanimoto Y., Sugiyama S. — Single crystalline silicon nano-wire piezoresistors for mechanical sensors — Transducers 01, Solid State Sensors and Actuators, Munich, Germany, June 10–14, (2001), 100 s.




Copyright (c) 2010 Сенсорна електроніка і мікросистемні технології

ISSN 1815-7459 (Print), 2415-3508 (Online)