ІНТЕРЕНФЕРЕНЦІЙНІ СИСТЕМИ ЯК ФОТОННІ КРИСТАЛИ

Автор(и)

  • Н. Л. Дьяконенко Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут", Україна
  • О. П. Овчаренко Харківський національний університет ім. В. Н. Каразіна, Україна

DOI:

https://doi.org/10.18524/1815-7459.2018.3.142043

Ключові слова:

фотонні кристали, інтерференція світла, багатошарова система, матричний метод

Анотація

Властивості фотонних кристалів - штучно створених багатошарових структур, в яких діелектрична проникність і геометричні розміри змінюються з періодом, які можна порівняти з довжиною хвилі - розглядаються шляхом розрахунку інтерференції світла в заданій багатошаровій системі. Обчислення проводилися за допомогою розроблених програм, складених з використанням матричних методів. Основна увага приділялася впливу дефектів, пов'язаних з порушенням періодичності шарів, на кількість і розташування дозволених і заборонених зон у широкому спектральному діапазоні. Наведено спектральні залежності коефіцієнта відбиття, аргументу полінома Чебишева і модуля аргументу полінома Чебишева.

Розрахунок оптичних характеристик багатошарових покриттів за допомогою матричного методу дозволяє визначити наявність зон загородження для періодичних та дефектних систем і запропонувати їх застосування в якості контрастного або вузькосмугового інтерференційного фільтра.

Посилання

G. S. Johnson and D. J. Joannopoulos, Photonic Crystals: The Road from Theory to Practice. Kluwer, Boston, (2002).

L. I. Ivzhenko, D. I. Yudina, S. I. Tarapov. Radiofisika ta elektronika. Т.22. № 2. (2017).

S. G. Moiseev, V. А. Оstatochnikov. Izvestiya Samarskogo nauchnogo zentra Rosiyskoi akademii nayk, т. 14, №4(4), с. 1102-1106, (2012).

Maсleod H. A. Thin-Film Optical Filters. Bristol: Adam Hilger Ltd., 332p (1986).

##submission.downloads##

Опубліковано

2018-09-11

Номер

Розділ

Матеріали для сенсорів